【仪表网 会议报道】2014年11月27日-28日，全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)2014年年会在安徽省芜湖市召开。来自全国各地光伏计量测试领域的单位、企业专业人士齐聚一堂。《晶体硅光伏组件电致发光缺陷测试系统要求规范》和《光伏组件用紫外老化箱校准规范》等多项国家标准通过立项评审。
本次会议由全国半导体设备和材料标准化技术委员会副主任委员、中国电子技术标准化研究院副院长张宏图主持，全国工业和信息化部电子信息司司长、SAC/TC203主任委员丁文武，芜湖市委常委、常务副市长曹哨兵出席会议并分别发表讲话。会议总结了半导体设备和材料标准化技术委员会2014年工作，讨论、规划了2015年的工作重点。
会议还进行了多项国家标准的讨论、审定等技术活动。由国家光伏质检中心（CPVT）牵头组织起草的《光伏组件用背板》和参与起草的《光伏组件用超薄玻璃》两项国家标准通过了专家审定。此外，国家光伏产业计量测试中心提交了《晶体硅光伏组件电致发光缺陷测试系统要求规范》和《光伏组件用紫外老化箱校准规范》国标立项建议书，并进行了现场答辩。两项建议书均顺利通过了委员会的技术专家评审，项目在公示后将报国家标准化管理委员会进行国家标准立项。
据了解，《光伏组件用紫外老化箱校准规范》通过对紫外老化试验箱辐照面的均匀性、紫外光的光谱分布、光源辐照强度和温度等项目的校准，保证经紫外试验老化箱的试验结果能用于光伏组件性能的客观评判。《晶体硅光伏组件电致发光缺陷测试系统要求规范》主要规定了电致发光缺陷检测仪的基本组成、系统构造、安全性能以及成像镜头、加电电源、检测时间等技术内容和测试试验方法，将有效解决光伏组件的缺陷检测复核和质量控制问题。
资料显示，全国半导体设备和材料标准化技术委员会（SAC/TC203）是在国家标准化管理委员会和工业和信息化部的共同领导下，从事全国半导体设备和材料技术领域标准化工作的组织，上对口SEMI（半导体设备和材料协会），秘书处设在中国电子技术标准化研究院。标委会下设5个分技术委员会和6个工作组，工作范围涉及半导体材料、光伏材料、平板显示材料、LED照明材料、电子化学品、电子封装材料、电子工业用气体、微光刻、设备等。
2013年4月，国家质检总局正式批准福建省依托福建省计量院筹建国家光伏产业计量测试中心，5月底开始建设。目前已初步搭建起了服务整个产业的测试平台，开始承担测试任务，为我国光伏产业提供计量技术保障。
目前，光伏计量中心已在标准制定、科研创新等方面大有建树。该中心通过积极搜集整理光伏产业的和国内相关标准，参与新国标提案研讨，此次提交的《晶体硅光伏组件电致发光缺陷测试系统要求规范》和《光伏组件用紫外老化箱校准规范》国家标准，有助于规范福建省乃至全国的电致发光缺陷检测仪、紫外老化箱等产品质量要求和检测方法，有利于提升我国光伏产品的竞争力。
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