试验箱
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产品&规范 | 高温 | 低温 | 温变率 | 循环数 | 循环 时间 | 备注 | |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 电子产品应力筛选 | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | ||
MIL-344A-4-16 电子设备环境应力筛选 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | |||
MIL-2164A-19 电子设备环境应力筛选 | 工作极限温度 | 工作极限温度 | 10℃/min | 10 | 驻留时间为内部达到设定温度10℃时 | ||
NABMAT-9492 美军hai军制造筛选 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 驻留时间为内部达到设定温度5℃时 | ||
GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 达到温度稳定的时间 | ||
GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 达到温度稳定的时间 | ||
笔记型计算机 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
主板二箱式冷热冲击箱 是一种专门设计用来测试计算机主板在温度变化下的耐用性和稳定性的设备。随着计算机硬件技术的不断进步,主板作为计算机的核心部件之一,其稳定性和可靠性对于整机性能至关重要。冷热冲击测试模拟了设备在不同环境下可能遇到的温度急剧变化,从而验证主板在这种条件下是否能够正常工作并保持性能。
双箱设计:
高温箱和低温箱分开设置,通常通过一个传输装置(例如,提篮、滑轨或传送带)将测试中的主板从一个箱体转移到另一个箱体,确保快速切换温度环境。
高温箱的温度范围通常为60°C至150°C,低温箱则一般为**-40°C至-70°C**。主板在这两种环境下会经历冷热急剧变化。
快速温度变化:
二箱式冷热冲击箱能够快速地从一个温度切换到另一个温度。通常,温度变化速度可以达到每分钟20°C到30°C,甚至更高,模拟计算机主板可能面临的快速环境温差变化。
模拟实际环境:
计算机主板常常需要在各种环境下工作,冷热冲击测试能够模拟在环境下的应用场景,如设备搬迁、仓储运输等过程中可能发生的温度变化。通过冷热冲击测试,评估主板的抗温差变化能力,确保其能够在高温和低温环境下稳定运行。
测试次数和循环:
测试通常需要进行多次冷热循环(例如,20次、50次、100次等),每一次从低温到高温,或从高温到低温的快速转换,都对主板的稳定性提出了挑战。
测试期间的保护:
高质量的冷热冲击箱配备有防冷凝装置,以防止低温环境下由于急剧升温而形成水珠,避免冷凝水对主板造成电路短路或腐蚀等损害。
实时监控:
设备通常配备了实时监控系统,用于记录温度变化、主板工作状态、以及测试过程中出现的任何异常(例如主板无法启动、蓝屏死机等)。这些数据对分析主板在不同环境下的表现至关重要。
准备测试物品:
将计算机主板放置在冷/热冲击箱的托盘上,确保其固定且与环境接触良好。主板可能需要连接到简单的测试电路,用于实时监控其工作状态。
温度变化:
测试开始时,主板首先置于高温箱内,进行高温测试。此时,主板需要在较高温度下稳定运行,检查其对温度升高的适应能力。随后,主板被迅速移至低温箱进行低温测试,检验其在低温下的启动和稳定性。
冷热交替循环:
在多个冷热交替循环的过程中,主板会经历多次从低温到高温,再从高温到低温的转换。每次转换都会对主板的电气性能、热膨胀和收缩等方面产生影响,测试其在反复冷热冲击中的表现。
性能检测:
在冷热冲击测试完成后,检查主板的各项性能指标。例如,是否能够正常启动,处理器、内存、硬盘等组件是否能正常工作,是否出现死机、蓝屏或性能下降等问题。
数据记录与分析:
测试过程中,系统记录下每一次温度变化、测试期间主板的稳定性等数据。通过这些数据,可以评估主板在环境下的长期耐用性,确定其是否符合生产标准。
主板研发与测试:
在主板的研发阶段,工程师会利用冷热冲击箱进行高温、低温和冷热交替测试,验证设计是否符合耐温要求,确保其能够在各种环境条件下正常运行。
生产质量控制:
对于批量生产的主板,冷热冲击测试是质量控制的重要环节。通过进行严格的冷热冲击测试,确保每一块主板的质量合格,能够应对实际使用中的温度变化。
国际认证与标准:
许多电子产品需要符合国际标准和认证要求,例如,MIL-STD-810(美国标准),以及IEC 60068-2-14等国际标准,冷热冲击测试通常是这些认证的一个重要部分。
售后服务与质量保证:
在计算机主板的售后服务中,厂家会使用冷热冲击箱来检查出现故障的主板,确定其是否在温差较大的环境中出现问题,为用户提供更好的技术支持和质量保障。
IEC 60068-2-14:国际电工委员会标准,适用于电子设备的冷热冲击测试,规定了设备在温度变化下的测试方法和要求。
MIL-STD-810:美国标准,针对设备在环境条件下的性能,包括冷热冲击测试。
GB/T 2423.22:中国国家标准,适用于电子产品的环境试验,包含冷热冲击测试方法。
ISO 16750:汽车电子设备的环境测试标准,包含冷热冲击等环境测试要求。
主板二箱式冷热冲击箱是验证主板在温差变化条件下稳定性和耐用性的关键设备。通过模拟温度的急剧变化,测试主板在高温、低温以及冷热交替过程中是否能够正常工作,检查其抗热膨胀、收缩以及电气稳定性。冷热冲击箱广泛应用于主板的研发、生产质量控制、认证验证和售后服务等环节,确保计算机主板能够在各种环境下稳定运行。
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